MTZ-35阻抗分析儀
MTZ-35是用于材料特性表征的阻抗分析儀，頻率范圍覆蓋10μHz-35 MHz。
MTZ-35可以與HTF-1100高溫爐配合使用，以研究寬溫度范圍內（室溫到1100℃）的材料性質。
建議兩個主要的樣品支架：HTSH-1100，用于高溫；CESH，用于環境溫度~ 150℃（最高）。
應用：
- 環氧樹脂
- 液晶
- 鐵電體
- 生物細胞
- 極性液體
- 陶瓷
- 太陽能/光伏電池
- 傳感器
- 橡膠
- 聚合物
- 納米材料
利用阻抗圖譜計算介電常數：
ω=2 π f f 為測得阻抗頻率值
電容C=1/( ω*z’’) z’’ 為測得阻抗虛部值
電容C=S*ε / 4π Kd K 為靜電常數 9E+09
介電常數ε=4π KdC/S d 為薄膜厚度
S 為薄膜面積
介電損耗D=1/tan θ Z’ 為測得阻抗實部值
