長期以來，對于光學法粒度分析儀的評價主要集中在重復性和準確性兩方面，以至于使用者主動或被動地忽視另一個評價儀器性能的重要指標——分辨力！ 這是因為現行標準中列出的計算方法使DLS的分辨力較低，且一直缺少評價光學法粒度儀分辨力的標準樣品，想要定量評價其分辨力非常困難。為了解決這個問題，法國Cordouan 公司設計制造出具高有高靈敏度和高分辨力納米粒度儀VASCO系列。

實驗證明，無論是常規模型(General Purpose)，還是多峰模型(Multimodal)或Contin算法，即使DLS 納米粒度分析儀也不能對 30nm 和 100nm的NIST標準乳膠顆粒的混合樣品給出正確的結果（圖 1），而Vasco（Vasco Kin）卻能完全分辨開這兩種乳膠顆粒，驗證了Vasco軟件專有的BSL算法和Pade-Laplace算法具有超高分辨能力。

圖1. 30nm+100nm 的 NIST 標準物質混合樣品

黃色峰是 DLS 納米粒度儀三種計算模式的測定結果；

藍色（Pade-Laplace）和綠色（SBL）是Vasco 的兩種計算結果。

Vasco系列納米粒度儀不僅有常規累積量算法（CUMULANTS），用于具有單分散趨勢的單峰樣品，而且具有多峰樣品的 Pade-Laplace 專有離散數學方法。這種算法是“無組分數量假設的多指數函數分析（SVD）”，用于復雜的和/或多峰樣品分析。Padé 給出與強度值相關聯的離散粒度值，這種類似于質譜的離散峰的柱圖表示方法可以一步一步地獲得每個柱圖的信息，具有極高的分辨率。

圖2  Pade-Laplace算法中得到兩種納米顆?；旌象w系離散的粒度分布（綠色）和主峰曲線（藍色）

Vasco系列納米粒度儀可用于納米科學、環境科學、功能化油墨，油田化學、鋰電材料、催化劑、化妝品和食品等領域。Vasco KinTM 非接觸測量的突出特點，結合極高的分辨率測定，為原位遠程測定包裝物及反應釜中的粒度分布及隨時間的變化，為制藥行業的反應監測和疫苗藥針中的蛋白質聚集體納米階段的生成監控，提供了有效的技術手段