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楊正紅總經理出席第67次 ISO/ TC24/SC4國際標準化會議

2024年的1118日至21日,國際標準化組織顆粒表征篩分法以外的粒度分析方法技術委員會(ISO/TC24/SC4)67次會議在美麗宜居的海濱城市廣東省珠海市舉行,對顆粒表征技術的國際標準進行制定與修訂。這是中國第四次承辦ISO/TC24/SC4工作會議,中國國際標準化組織總負責人李玉冰女士到會祝賀。

由于疫情和交通的后續影響,本屆會議采用線上和線下同時進行,中國派出了20人以上規模的專家代表團。自2006年首次參加ISO會議以來,楊正紅總經理作為中國顆粒表征與分檢及篩網標準化技術委員會委員(SAC/TC168)和ISO注冊專家再次出席了會議,并參加了WG1粒度分析結果的數據表達)、WG3(孔徑分布和孔隙率)、WG8(圖像法粒度分析)以及WG17Zeta 電位測定方法)工作組會議。